Отличный и комплексный программный пакет STOE X-Area разработан для управления последними дифрактометрами STOE для монокристаллов, такими как STADIVARI (оснащённый, например, одним или двумя микрофокусными источниками и современным гибридным фотоподсчетным детектором) и IPDS II/2T (с проверенными детекторами на пластинах изображения).
STOE X-Area позволяет планировать и проводить точные измерения, обрабатывать кадры, анализировать данные и выполнять сложные коррекции интенсивностей для достижения наивысшего качества данных.

Функции

• Высокое качество данных, неограниченное количество отражений при уточнении параметров решетки
• Доступны два метода индексирования: графический и автоматический
• Использование эллиптических профилей отражений и опции Kα_1/2-разделения для интеграции
• Графические инструменты для анализа качества данных по интенсивности
• Удобный интерфейс для контроля прибора и анализа измеренных данных
• Высокая гибкость благодаря динамическому управлению памятью
• Полная интеграция с FaceitVideo от STOE

Сбор данных

Управление инструментом / Измерение / Оптимизация измерений

• Интуитивный интерфейс с прямым доступом ко всем функциям
• Легкое центрирование образца с помощью функции FaceitVideo
• Автоматический сбор данных за несколько кликов
• Кадры с 32 битами на пиксель обеспечивают широкий динамический диапазон и точность данных
• Дружелюбный GUI оптимизирует стратегию измерений, позволяя быстрее собирать данные
• Функция “End-Date Wizard” помогает подобрать параметры измерений для максимального качества данных и эффективности времени

Мониторинг кристалла

Сигнал видеокамеры позволяет удобно центрировать кристалл и при необходимости индексировать его грани.

Run Optimizer

Мощный инструмент для оптимизации времени сбора данных.

Представление данных

Frame Graphics

• Программа для проверки собранных кадров
• Интерактивные отображения позволяют проверять качество кристалла
• Проверка дифракционных паттернов на аномалии, такие как диффузное рассеяние

Reflection Inspection

Графическое ПО для детального просмотра кадров и проведения статистических расчетов.

Обработка изображений

Index / Cell / Refine

• Поиск пиков в многопроцессном режиме
• Индексирование автоматически или графическим методом
• Уточнение параметров элементарной ячейки
• Неограниченное количество пиков для уточнения

Robust Indexing

Графическое индексирование для полного контроля качества кристалла.

Integration

• Эллиптические профили отражений и опция Kα_1/2-разделения для интеграции
• Автоматическая оптимизация параметров интеграции
• Графический контроль процесса интеграции
• Поддержка высоконапорных ячеек
• Файлы интенсивностей совместимы с SHELX и XD

Integrate3D

• Интеграция на основе ab-initio, автоматическая подстройка рамки интеграции
• Улучшенное I/σ(I) для слабых данных
• Полностью автоматическая интеграция
• Точные ручные настройки обработки данных

Анализ данных

• Графики E-статистики для различения центрисных и ацентрисных структур
• Анализатор для определения корректной группы Лауэ
• Автоматическое определение пространственной группы
• Просмотр пиков в обратном пространстве
• Реконструкция обратного пространства для сложных дифракционных паттернов
• Преобразование пикселей кадра в “порошковые диаграммы”

Коррекции

• Полностью автоматическая LP и коррекция поглощения воздуха
• Коррекция поглощения в зависимости от кристалла
• Автоматическая версия X-Shape
• Масштабирование межкадровых данных
• Коррекция для разложения кристалла
• Отбрасывание выбросов

Сложные структуры

Многодоменные системы

• Полуавтоматическое индексирование пиков отдельных доменов
• Одновременная интеграция интенсивностей до восьми доменов
• Масштабирование интенсивностей с учетом симметричных отражений

Модулированные структуры

• Оценка основной решетки
• Определение и уточнение до 3 q-векторов
• Интеграция основных отражений и спутников
• Обработка паттернов из многодоменных модулированных кристаллов