Программный пакет порошковой дифрактометрии STOE WinXPOW — современное Windows-приложение. Оно очень удобное, простое в использовании, но при этом мощное и гибкое. Один компьютер может одновременно управлять двумя дифрактометрами, а результаты измерений легко интегрируются в другие стандартные Windows-приложения. Программа поставляется как полный пакет для сбора и обработки данных.

Функции

Сбор данных

Управление дифрактометром / контроль температуры

  • Удобный и интуитивный интерфейс для серии дифрактометров STADI P. Лёгкий доступ и управление дифрактометром и подключённым оборудованием
  • Поддержка широкого диапазона конфигураций образцов: трансмиссия, Дебай-Шеррер, отражение
  • Режимы сканирования: 2θ/ω, θ/2θ, θ и ω
  • Автоматические температурные сканы с различными низко- и высокотемпературными устройствами
  • Измерения с автосменой образцов могут выполняться напрямую или через внешние программы (batch-файлы)
  • Полностью автоматическая калибровка: корректировка нулевой точки за несколько минут

Обработка исходных данных

  • Инструменты для редукции данных: редактирование фона, поглощение, мёртвое время, корректировка углов и при необходимости удаление линии Kα2
  • Целые файлы или выбранные диапазоны можно объединять, суммировать или вычитать
  • Простая конвертация формата STOE в другие форматы для импорта в распространённые программы Ритвельда
Raw Data Example

Представление данных

2D-Графика

  • Мощная графическая программа для визуализации и презентации собранных данных
  • Отображение множества наборов данных: измеренные данные, пики, данные из баз ICDD
  • Базовая обработка данных: поиск пиков, редактирование фона
  • Гибкая настройка отображения: масштаб осей, цветовые схемы, подписи
2D Graphics Example

3D-Графика

  • Простая в использовании программа визуализации 3D-графики
  • Гибкий выбор перспективы, масштабирования и подписей при отображении набора кривых сверху (построение Гинье)
3D Graphics Example


Данные предоставлены группой проф. А. Влада, UCLouvain, Бельгия.

Обработка данных

SystEval: индексация, уточнение ячейки, символы вырождения

  • Индексация и определение пространственной группы часто ограничивают скорость определения структуры по порошковым данным. WinXPOW с модулем SystEval предоставляет мощный инструмент: поиск пиков, индексация тремя алгоритмами, уточнение ячейки и определение символов вырождения
  • Все операции выполняются с полным уточнением профиля
  • Два режима работы: пошаговый проводник и экспертный режим с ручной настройкой параметров
  • Опциональные модули: анализ размера-деформации, кристалличности
  • Оценка параметров размера/деформации
  • Определение степени кристалличности
  • Расчёт теоретической порошковой диаграммы по атомным координатам
  • Простой импорт CIF-файлов

Опциональные модули

Search-Match

  • На основе баз данных ICDD PDF: фазовый анализ порошковых диаграмм с удобным просмотром базы
  • Алгоритм поиска фаз по химическому составу, названиям минералов и другим критериям
  • Полуквантитативные результаты рассчитываются на основе табличных значений I/Icor
  • Возможность расширения базы собственными фазами

Search/Match2

  • Прямой импорт измеренных .raw-файлов
  • Импорт одиночных диапазонов, множественных диапазонов, серий нестационарных измерений
  • Отображение 2D и 3D данных в новом мощном графическом модуле
  • Анализ фаз «в один клик» с использованием баз ICDD, COD или собственной базы
  • Экспертный режим позволяет выполнять анализ вручную с учётом опыта
  • Байесовский алгоритм ищет по всей базе за доли секунды и ранжирует фазы по вероятности
  • Проверка правдоподобия результатов через полное уточнение профиля
  • Проекты и базы данных сохраняются в SQL и доступны по сети или для обмена
Search Match 2

Комбинаторный и высокопроизводительный анализ

  • Модуль высокопроизводительного анализа: фазовая идентификация, сравнение образцов, анализ интенсивности на сетке до 96 лунок
  • Гибкая визуализация результатов с настройкой параметров под каждую задачу

Рефлектометрия

  • Модуль Layer позволяет оценивать толщину, плотность и шероховатость по данным рефлектометрических сканов с использованием оптимизированного алгоритма наименьших квадратов
  • Для образцов с неизвестными слоями первый шаг — моделирование теоретического профиля