WinXpow
Программный пакет порошковой дифрактометрии STOE WinXPOW — современное Windows-приложение. Оно очень удобное, простое в использовании, но при этом мощное и гибкое. Один компьютер может одновременно управлять двумя дифрактометрами, а результаты измерений легко интегрируются в другие стандартные Windows-приложения. Программа поставляется как полный пакет для сбора и обработки данных.
Функции
Сбор данных
Управление дифрактометром / контроль температуры
- Удобный и интуитивный интерфейс для серии дифрактометров STADI P. Лёгкий доступ и управление дифрактометром и подключённым оборудованием
- Поддержка широкого диапазона конфигураций образцов: трансмиссия, Дебай-Шеррер, отражение
- Режимы сканирования: 2θ/ω, θ/2θ, θ и ω
- Автоматические температурные сканы с различными низко- и высокотемпературными устройствами
- Измерения с автосменой образцов могут выполняться напрямую или через внешние программы (batch-файлы)
- Полностью автоматическая калибровка: корректировка нулевой точки за несколько минут
Обработка исходных данных
- Инструменты для редукции данных: редактирование фона, поглощение, мёртвое время, корректировка углов и при необходимости удаление линии Kα2
- Целые файлы или выбранные диапазоны можно объединять, суммировать или вычитать
- Простая конвертация формата STOE в другие форматы для импорта в распространённые программы Ритвельда

Представление данных
2D-Графика
- Мощная графическая программа для визуализации и презентации собранных данных
- Отображение множества наборов данных: измеренные данные, пики, данные из баз ICDD
- Базовая обработка данных: поиск пиков, редактирование фона
- Гибкая настройка отображения: масштаб осей, цветовые схемы, подписи

3D-Графика
- Простая в использовании программа визуализации 3D-графики
- Гибкий выбор перспективы, масштабирования и подписей при отображении набора кривых сверху (построение Гинье)

Данные предоставлены группой проф. А. Влада, UCLouvain, Бельгия.
Обработка данных
SystEval: индексация, уточнение ячейки, символы вырождения
- Индексация и определение пространственной группы часто ограничивают скорость определения структуры по порошковым данным. WinXPOW с модулем SystEval предоставляет мощный инструмент: поиск пиков, индексация тремя алгоритмами, уточнение ячейки и определение символов вырождения
- Все операции выполняются с полным уточнением профиля
- Два режима работы: пошаговый проводник и экспертный режим с ручной настройкой параметров
- Опциональные модули: анализ размера-деформации, кристалличности
- Оценка параметров размера/деформации
- Определение степени кристалличности
- Расчёт теоретической порошковой диаграммы по атомным координатам
- Простой импорт CIF-файлов
Опциональные модули
Search-Match
- На основе баз данных ICDD PDF: фазовый анализ порошковых диаграмм с удобным просмотром базы
- Алгоритм поиска фаз по химическому составу, названиям минералов и другим критериям
- Полуквантитативные результаты рассчитываются на основе табличных значений I/Icor
- Возможность расширения базы собственными фазами
Search/Match2
- Прямой импорт измеренных .raw-файлов
- Импорт одиночных диапазонов, множественных диапазонов, серий нестационарных измерений
- Отображение 2D и 3D данных в новом мощном графическом модуле
- Анализ фаз «в один клик» с использованием баз ICDD, COD или собственной базы
- Экспертный режим позволяет выполнять анализ вручную с учётом опыта
- Байесовский алгоритм ищет по всей базе за доли секунды и ранжирует фазы по вероятности
- Проверка правдоподобия результатов через полное уточнение профиля
- Проекты и базы данных сохраняются в SQL и доступны по сети или для обмена

Комбинаторный и высокопроизводительный анализ
- Модуль высокопроизводительного анализа: фазовая идентификация, сравнение образцов, анализ интенсивности на сетке до 96 лунок
- Гибкая визуализация результатов с настройкой параметров под каждую задачу
Рефлектометрия
- Модуль Layer позволяет оценивать толщину, плотность и шероховатость по данным рефлектометрических сканов с использованием оптимизированного алгоритма наименьших квадратов
- Для образцов с неизвестными слоями первый шаг — моделирование теоретического профиля