Сканирующий электронный микроскоп Scios 2 DualBeam

Производитель: Thermo Fisher Scientific, США

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Scios 2 DualBeam — это высокоточное лабораторное оборудование класса SEM/FIB, предназначенное для анализа, подготовки образцов и трехмерной (3D) характеризации материалов. Поставка оборудования осуществляется компанией LabEco Technology из Алматы с доставкой по всему Казахстану.

Электронный микроскоп Thermo Scientific Scios 2 DualBeam сочетает возможности сканирующей электронной микроскопии (SEM) и фокусированного ионного пучка (FIB), обеспечивая сверхвысокое разрешение и точную работу с магнитными и некондуктивными образцами. Решение идеально подходит для научных, промышленных и исследовательских лабораторий Казахстана.

Технические характеристики

Технический параметр Значение
Разрешение электронного пучка
  • 0.7 нм при 30 кэВ (STEM)
  • 1.4 нм при 1 кэВ
  • 1.2 нм при 1 кэВ с торможением пучка
Параметры электронного пучка
  • Ток пучка: 1 пА – 400 нА
  • Ускоряющее напряжение: 200 В – 30 кВ
  • Максимальное поле зрения: до 7 мм
Ионная оптика
  • Ускоряющее напряжение: 500 В – 30 кВ
  • Ток ионного пучка: 1.5 пА – 65 нА
  • Разрешение: 3.0 нм при 30 кВ
Детекторы
  • Система Trinity
  • ETD, DBS, STEM, ICE (опционально)
  • До 4 сигналов одновременно
Стол и образец
  • 5-осевой моторизованный стол
  • Диапазон XY: 110 мм
  • Наклон: от -15° до +90°
  • Максимальный вес образца: 5 кг

Преимущества SEM/FIB микроскопа Scios 2

  • Сверхвысокое разрешение SEM и FIB
  • 3D-анализ и подповерхностная характеризация
  • Подготовка образцов для ТЕМ и атомных зондов
  • Работа с некондуктивными и магнитными материалами
  • Поставка, сервис и поддержка от Ecolab в Казахстане

Купить сканирующий электронный микроскоп Scios 2 DualBeam в Алматы — это надежное решение для лабораторий, которым требуется современное лабораторное оборудование с поставкой по всему Казахстану. Компания LabEco Technology обеспечивает консультации, подбор и внедрение оборудования.