K-Alpha — полностью интегрированная система рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS) с микрофокусировкой и профилированием по глубине. Сочетает высокую производительность, простоту использования, компактный размер и минимизацию затрат владения, что делает её идеальной для многопользовательских лабораторий. Доступна через LabEco Technology в Алматы, Казахстан.

Преимущества и особенности

Высокая производительность РФЭС

• Улучшенная спектроскопическая производительность для быстрого анализа и точного обнаружения элементов
• Модуль вакуумной передачи для чувствительных к воздуху образцов
• Модуль наклона для ARXPS (угловая XPS-спектроскопия)
• Программное обеспечение Thermo Scientific™ Avantage для анализа, отчетности и автоматизации

Мощная аналитическая функциональность

• Спектроскопия локальной области (РФЭС микроскопия)
• Профилирование по глубине с ионным трафлением
• Микро-сфокусированный монохроматор
• Построение химических карт
• Спектроскопия химического состояния с высоким разрешением
• Анализ диэлектриков
• Количественная химическая визуализация

Простота использования

• Захват спектров, изображений, профилей и линейного сканирования
• Интерпретация — идентификация элементарного и химического состояния
• Обработка данных — количественная идентификация, пиковая подгонка, обработка спектральных изображений, PCA, фазовый анализ и др.
• Автоматическая генерация отчетов и простой экспорт
• Полностью управляемая система через интерфейс Avantage
• Avantage Indexer — управление архивом данных
• Журнал аудита и ведение журнала производительности системы
• Калибровка по требованию
• Возможность удаленного управления системой

Основные технические характеристики

• Анализатор — полусферический с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором
• Источник рентгеновского излучения — микрофокусированный монохроматор Al Kα с регулируемым размером пятна
• Ионный источник — диапазон энергии 100–4000 эВ
• Компенсация заряда для диэлектриков
• Размер образца — 4-осевой манипулятор, площадь до 60 x 60 мм, максимальная толщина 20 мм
• Опции — модуль переноски образца, модуль наклона для ARXPS, модуль смещения образца