Scios-2

Scios 2 — это высокоточный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с двойным лучом (Focused Ion Beam – FIB), предназначенный для работы в нанотехнологиях, материаловедении и аналитических исследованиях. Он обеспечивает исключительное качество изображений и точную ионную обработку образцов.

Категория:

Описание

Scios 2 от Thermo Scientific сочетает в себе передовые технологии сканирующей электронной микроскопии и сфокусированного ионного пучка (FIB), что делает его идеальным инструментом для высокоточных исследований и модификации образцов. Оснащенный мощным Schottky FEG SEM и Ga+ FIB, он позволяет выполнять точный анализ структуры материалов, создавать срезы образцов с нанометровой точностью и проводить литографические операции.

Высокая стабильность, автоматизированные функции и продвинутое программное обеспечение позволяют легко работать даже с самыми сложными образцами. Благодаря технологии SmartAlign, микроскоп обеспечивает быструю и точную юстировку без необходимости частого вмешательства оператора.

Технические характеристики:

  • Электронный источник: Schottky Field Emission Gun (FEG)
  • Разрешение (СЭМ): до 0,7 нм при 1 кВ
  • Ионный источник: Ga+ FIB
  • Разрешение FIB: до 2,5 нм при 30 кВ
  • Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В – 30 кВ
  • Максимальный размер образца: до 150 мм
  • Автоматизированные функции: AutoScript™, SmartAlign™, AutoTEM™
  • Программное обеспечение: Thermo Scientific Maps™ и Avizo™

Scios 2 — это мощное решение для исследований на наномасштабе, позволяющее проводить прецизионный анализ, прототипирование и модификацию образцов с высочайшей точностью.

Похожие товары