Растровый электронный микроскоп Verios 5 XHR SEM

Verios 5 XHR SEM — это высокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп (XHR SEM) премиум-класса, обеспечивающий выдающееся качество изображений с нанометровой детализацией. Разработан для передовых исследований в материаловедении, нанотехнологиях, полупроводниковой промышленности и биологических науках.

Категория:

Описание

Verios 5 XHR SEM от Thermo Scientific предлагает высочайшее пространственное разрешение даже при низком напряжении, что делает его идеальным для изучения сложных наноструктур. Использование Schottky field emission gun (FEG) и усовершенствованной системы детекторов обеспечивает исключительную четкость изображений с высокой контрастностью.

Благодаря технологии TruAlign™, система позволяет быстро проводить юстировку без потери качества изображения. Функции Beam Deceleration Mode и SmartScan™ минимизируют зарядку образцов и артефакты, что особенно полезно для работы с изолирующими материалами.

Программное обеспечение Thermo Scientific Maps™ упрощает навигацию по образцу, позволяя эффективно проводить анализ больших областей и автоматизированные исследования.

Технические характеристики:

  • Источник электронов: Schottky Field Emission Gun (FEG)
  • Разрешение: до 0,6 нм при 1 кВ
  • Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В – 30 кВ
  • Режимы работы: низковольтный, высоковакуумный, низковакуумный
  • Максимальный размер образца: до 100 мм в диаметре
  • Детекторы: Everhart-Thornley (ETD), In-Lens SE, BSE, STEM
  • Автоматизированные функции: TruAlign™, SmartScan™, AutoScript™
  • Программное обеспечение: Thermo Scientific Maps™ и Avizo™

Verios 5 XHR SEM — идеальный инструмент для точного изучения наноструктур, обеспечивающий высочайшую детализацию и надежность анализа в самых сложных научных и промышленных задачах.

Похожие товары